对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准脉冲涡流应用前景
脉冲涡流应用此项技术在不停机不拆保温层情况下进行检测，能为业主节约了宝贵的生产时间。应用传统方法检测需要拆除保温，这将花费大量的人力物力，更要耗费大量时间，主要的是检测需要在停机或者停厂条件下进行,而停止生产进行检测是业主不愿意看到的情况，因为这样会给业主带来大量的经济损失。因此，不停机不拆保温层情况下利用脉冲涡流对压力容器、压力管道进行测厚的检测检测方法有着广阔的应用前景。
对比试样校准声速调节
超声波测厚仪的声速变了，测量值就会变。例，在调节声速时，按一下“ENTER”键则声速快速地调整为5900M/S。在菜单中选择“声速”或“声速调整”，按住“CAL”或“校准”键两秒左右，声速就快速地调整为5900M/S，再按“ENTER”或“确认”键，就返回到测量状态。如果测量还存在误差，测量仪器上的标准试块，液晶应该显示“4.0”或“4.00mm”，若是其数字，则在一边测量试块一边按住“CAL”或“校准”键2秒左右，直到数字变成“4.0”或“4.00mm”，即完成了对仪器的校准，就可以准确无误地进行测量了。